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降低了歧視的電容電流 |
來(lái)自:極譜儀 |
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【標(biāo) 題】:降低了歧視的電容電流
【作者單位】:山東濟(jì)寧東盛電子儀器有限公司
【內(nèi)容摘要】: 一種快速脈沖極譜儀適合測(cè)量快速均相反應(yīng)和電極反應(yīng)的進(jìn)行詳細(xì)說(shuō)明?焖俪潆姇r(shí),雙電層(<10 -5)的實(shí)現(xiàn)可以通過(guò)電荷注入或通過(guò)IR補(bǔ)償。的雙電層的充電和測(cè)量的電流之間的最小延遲時(shí)間是大約7微秒。可以通過(guò)使用TAST和脈沖極譜技術(shù)極大地降低了歧視的電容電流。這些已開(kāi)發(fā)的模擬和數(shù)字電子電位儀的介紹。獲得的第一個(gè)重大改進(jìn),如果只測(cè)量電流的每一滴生命周期結(jié)束時(shí)(TAST極譜法)。一個(gè)更大的提高,已引進(jìn)的微分脈沖極譜法。這里,電流的測(cè)量開(kāi)始之前,以及潛在的短脈沖結(jié)束前。后者被疊加線性伏安掃描電位 - 時(shí)間函數(shù)。這些脈沖的范圍在10和50 mV之間的典型的振幅,而脈沖持續(xù)時(shí)間是20至50毫秒。這兩個(gè)
[更多詳細(xì)]
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一種快速脈沖極譜儀適合測(cè)量快速均相反應(yīng)和電極反應(yīng)的進(jìn)行詳細(xì)說(shuō)明?焖俪潆姇r(shí),雙電層(<10 -5)的實(shí)現(xiàn)可以通過(guò)電荷注入或通過(guò)IR補(bǔ)償。的雙電層的充電和測(cè)量的電流之間的最小延遲時(shí)間是大約7微秒?梢酝ㄟ^(guò)使用TAST和脈沖極譜技術(shù)極大地降低了歧視的電容電流。這些已開(kāi)發(fā)的模擬和數(shù)字電子電位儀的介紹。獲得的第一個(gè)重大改進(jìn),如果只測(cè)量電流的每一滴生命周期結(jié)束時(shí)(TAST極譜法)。一個(gè)更大的提高,已引進(jìn)的微分脈沖極譜法。這里,電流的測(cè)量開(kāi)始之前,以及潛在的短脈沖結(jié)束前。后者被疊加線性伏安掃描電位 - 時(shí)間函數(shù)。這些脈沖的范圍在10和50 mV之間的典型的振幅,而脈沖持續(xù)時(shí)間是20至50毫秒。這兩個(gè)電流值之間的差異是,作為分析信號(hào)。這種技術(shù)的結(jié)果中的100至1000倍的改善的檢測(cè)極限,因?yàn)殡娙莩煞直挥行У匾种啤?
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