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數字化控制電位溶出速度技術(shù) |
| 來(lái)自:東盛電子 |
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【標 題】：數字化控制電位溶出速度技術(shù)
【作者單位】：山東濟寧東盛電子儀器有限公司
【內容摘要】： 電位溶出是一項上世紀70年代末就有人提出的一項分析方法。我們作為第一個(gè)開(kāi)發(fā)成商品儀器者來(lái)說(shuō)，對其技術(shù)特征了如指掌。最早在國內用模擬技術(shù)實(shí)現的是四川某地質(zhì)隊郭學(xué)文，用一種壓頻變換器件實(shí)現了倒數運算。這種方法的缺陷是初始和大信號范圍非線(xiàn)性，因技術(shù)的進(jìn)步這種方法很快被放棄。以下國內大都采用趙志軍、張壽松提出的讀電位窗的方法，將電位分256個(gè)電位窗口，用軟件方式實(shí)現。當時(shí)只有單板機運算速度慢的背景下，這種方法靈敏度較低，在此基礎上山東電訊七廠(chǎng)采用讀CTC常數方法，還獲得了發(fā)明專(zhuān)利。隨著(zhù)微機及技術(shù)的進(jìn)步，大都又采用軟件硬件結合方式，用程序分256個(gè)電位窗，在每個(gè)電位上讀計數器，形式t－E曲線(xiàn)，這需要
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電位溶出是一項上世紀70年代末就有人提出的一項分析方法。我們作為第一個(gè)開(kāi)發(fā)成商品儀器者來(lái)說(shuō)，對其技術(shù)特征了如指掌。最早在國內用模擬技術(shù)實(shí)現的是四川某地質(zhì)隊郭學(xué)文，用一種壓頻變換器件實(shí)現了倒數運算。這種方法的缺陷是初始和大信號范圍非線(xiàn)性，因技術(shù)的進(jìn)步這種方法很快被放棄。以下國內大都采用趙志軍、張壽松提出的讀電位窗的方法，將電位分256個(gè)電位窗口，用軟件方式實(shí)現。當時(shí)只有單板機運算速度慢的背景下，這種方法靈敏度較低，在此基礎上山東電訊七廠(chǎng)采用讀CTC常數方法，還獲得了發(fā)明專(zhuān)利。隨著(zhù)微機及技術(shù)的進(jìn)步，大都又采用軟件硬件結合方式，用程序分256個(gè)電位窗，在每個(gè)電位上讀計數器，形式t－E曲線(xiàn)，這需要一個(gè)較大的計數器。我們則根據過(guò)去的方法做不足之處，又采用了一種新的模式，即容易實(shí)現、重復性好、靈敏度高，無(wú)需調整靈敏度（原來(lái)調靈敏度的方式實(shí)質(zhì)上是調整計數器），再配合其他技術(shù)，整體提升了這項技術(shù)的水平。 電位溶出技術(shù)在國內得到了廣泛的應用，已有多項標準方法。電位溶出的一個(gè)特點(diǎn)就是氧化劑（或還原劑）是掃描動(dòng)力，尤其是氧化電位溶出，溶解氧做氧化劑，既有方便的一面，也有壞的影響。方便之處不需專(zhuān)門(mén)添加氧化劑，壞的方面是無(wú)法控制對不同電位元素氧化能力。例如對鋅氧化能力過(guò)強，對銅氧化能力太弱，鉛得天獨厚，不強不弱，因此電位溶出測鉛非常適合，成為一系列標準方法。對鎘的測定氧化能力就過(guò)于強了，檢測靈敏度較低，國家檢定規程檢測下限為0.1µg/L，實(shí)際很難達到。我們很早就注意到了這個(gè)問(wèn)題，并做了多項實(shí)驗解決了這個(gè)問(wèn)題，可以人為地通過(guò)對儀器設置控制溶出速度。采用這項技術(shù)后，可以大幅度提高靈敏度，例如測Cd2＋就不那么費力，0.05µg/L就可定量。也降低了對電極和溶液的要求。銀電極沾汞后非常適合電位溶出，但由于汞膜厚，擴散速度快，溶出速度更快，靈敏度低，大大限制了應用，應用控制溶出速度技術(shù)后，可以人為地控制溶出速度，使這種電極有了用武之地，一些分析不再非玻碳電極鍍汞膜不可，拓寬了應用范圍，這項技術(shù)已成為我公司產(chǎn)品的一個(gè)特點(diǎn)。
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極譜儀，極譜分析儀
